무작위로 발생하는 글리치(노이즈)를 찾기 위해 오실로스코프 화면의 파형을 뚫어지게 바라보면서, 다음 파형 업데이트 전에 화면을 수동으로 정지하려고 시도하는 것은 거의 불가능한 작업입니다! 하지만 무작위 글리치를 어떻게 포착할 수 있을까요? Fluke ScopeMeter 190III 시리즈에 있는 합격/불합격 테스트 기능을 사용하면 기준을 벗어난 파형이 자동으로 캡처됩니다.
잘 알려진 ITU G703 펄스 마스크 템플릿을 예로 들어 사용자가 생성한 파형 템플릿을 벗어난 파형 이상을 얼마나 쉽게 포착할 수 있는지 설명하겠습니다.
G.703 표준
G.703은 본래 디지털 네트워크를 통한 음성 및 데이터 전송을 위해 도입된 표준입니다. 이것은 PCM 표준과 관련된 ITU 권장 사항(구 CCITT)입니다. PCM에 따른 음성 아날로그-디지털 데이터 변환에는 64kb/s(±100ppm)의 대역폭이 필요하므로 G.703을 위한 기본 단위가 됩니다. 이를 다중화하면 1.544 Mb/s의 T1 및 2.048 Mb/s의 E1이 됩니다.
네트워크 인터페이스의 전기적 특성은 권장 사항 G.703에 설명되어 있습니다. 2.048Mb/s 신호의 신호 한계는 그림 1에 나와 있습니다.
두 가지 다른 마스크(mask)를 사용한 다중 채널 테스트
120 ? 대칭선의 임피던스를 75 ? 동축선에 맞추기 위해 패치 패널과 동축 전송선 사이에 발룬(balun)을 사용합니다. 발룬의 입력 및 출력에는 각각 특정 마스크가 있습니다.
ScopeMeter는 다양한 마스크를 사용하여 발룬의 입력 및 출력에서 합격/불합격 테스트를 동시에 수행할 수 있습니다. Fluke ScopeMeter의 부동 및 절연 입력은 원치 않는 접지 발생의 위험 없이 이러한 측정을 가능하게 합니다. 또한 고임피던스 프로브는 라인 부하 및 외부 차동 프로브 없이 다이렉트 측정을 가능하게 합니다.
합격/불합격 템플릿 편집
FlukeView를 사용하면 파형을 스프레드시트로 내보낼 수 있으며 Excel로 파형을 편집하여 사용자 지정 템플릿을 생성할 수 있습니다. FlukeView의 파형을 .csv 형식으로 저장하고 Excel 또는 메모장 등을 사용하여 파형을 편집하고 각 샘플 포인트에 대한 새 값을 입력하여 합격/불합격 테스트를 위한 참조 템플릿을 생성할 수 있습니다.
기준 파형에는 300 포인트 최소-최대 파형이 필요합니다. 그림 3에서 B열은 마스크의 최소값(다이어그램의 파란색 또는 아래쪽 선)을 나타내고 C열은 마스크의 최대값(다이어그램의 빨간색 또는 위쪽 선)을 나타냅니다. 기존 템플릿의 왼쪽 및 오른쪽 영역은 이 합격/불합격 테스트와 관련이 없습니다. 즉, 최소 및 최대 값은 화면 크기에 따라 결정됩니다. 참조 템플릿을 편집하면 FlukeView(4.1버전 이상)를 사용하여 ScopeMeter에 업로드할 수 있습니다.
템플릿은 입력 A에서 테스트하기 위한 참조 또는 입력 B에서 참조로 사용할 수 있습니다. 트리거 포인트는 펄스의 상승 에지의 50%에 있어야 합니다. 정확한 배치를 위해 트리거 기호의 상단이 템플릿의 50% 레벨과 정렬되어야 합니다.
또한 두 개의 다른 마스크를 사용하여 두 입력 모두에서 합격/불합격 테스트를 수행할 수 있습니다. 입력 A는 120 ? 라인 임피던스에 해당하는 템플릿을 사용하여 발룬의 입력을 모니터링할 수 있는 반면, 입력 B는 75 ? 템플릿을 사용하여 발룬의 출력을 모니터링합니다.
결론
합격/불합격 테스트는 참조 템플릿에 지정된 최소값 또는 최대값을 벗어나는 이벤트를 식별하여 전자 문제 해결 속도를 높입니다.
통신 네트워크 또는 산업 제어 시스템 등 유지 관리 대상에 관계없이 사용자 지정 템플릿과 합격/불합격 표시기의 유연성은 Fluke 190III 시리즈를 효과적인 문제 해결사로 만듭니다.